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Anwendung Für Messungen von Feldern, die in Richtung Sondenachse verlaufen. Technische Daten Anzeige LCD- Digitalanzeige mit 15 mm Ziffernhöhe, 3 1/2 Digit, 3 Messungen/Sekunde, automatische Polaritätsanzeige Messbereiche 3 Messbereiche: 0-20 mT, 0-200 mT und 0-2000 mT größte Auflösung 0.01 mT Messgenauigkeit besser ±2 % vom Messwert über interne Kalibrierspannung, besser ±1 % vom Messwert mittels Vergleichsmagnet Ausgang Analogausgang ± 199.9 mV entsprechend 1999 Digit, Anschluss für Analoganzeige, XY-Schreiber und A/D-Wandler Stromversorgung über mitgeliefertes Netzgerät, Trocken-Batterie 9V-Block Betriebsdauer ca. 100 Stunden über Trockenbatterie Abmessungen 145 mm x 80 mm x 38 mm Gewicht 0.3 kg

Oberflächenanalyse Eine ideale Ergänzung des Rasterelektronenmikroskops (REM) für die umfassende Charakterisierung winziger Strukturen oder Oberflächendetails bildet unser hochmodernes System für die Röntgenspektroskopie (EDX). Jedes Detail, welches das REM abbildet, kann damit auf seine oberflächennahe Elementzusammensetzung untersucht werden. Neben Punkt- und Linienanalysen ist die Erstellung von „Elementlandkarten“ möglich. Wenn diese dem elektronenmikroskopischen Bild überlagert werden, lässt sich die Elementverteilung auf der Objektoberfläche wirksam charakterisieren. Für einen Grossteil der Fragestellungen aus den Bereichen Oberflächenmorphologie, Partikelcharakterisierung und Materialanalyse sind REM und EDX in ihrem Zusammenspiel die erste Wahl.